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9 單功能測(cè)量
任何測(cè)量的持續(xù)時(shí)間是可以自定義的。相關(guān)測(cè)試可以通過(guò)點(diǎn)擊START/STOP來(lái)啟停。 對(duì)于單功能測(cè)量沒有預(yù)設(shè)限值。因此對(duì)單 功能測(cè)量值也沒有一個(gè)判斷結(jié)果。
具有保存功能和預(yù)選(ME)裝置的測(cè)量程序如果要將單個(gè)測(cè)量值保存到數(shù)據(jù)庫(kù)中選定的(ME)設(shè)備中(請(qǐng)參見第6節(jié)),則建議執(zhí)行以下步驟。
1 通過(guò)按MEM鍵來(lái)激活數(shù)據(jù)庫(kù)視圖 (MEM導(dǎo)航)。
2 選擇(ME)設(shè)備或其ID編號(hào),用滾動(dòng)鍵進(jìn)行以下測(cè)量。
3 通過(guò)按ESC鍵或啟動(dòng)/停止鍵返回到測(cè)量視圖。
4 在被測(cè)對(duì)象開機(jī)之前,使用啟動(dòng)/停止鍵開始測(cè)試。右側(cè)顯示的測(cè) 量值記錄符號(hào)。 每次按下此鍵時(shí), 當(dāng)前顯示的值將被保存到剪貼板中 并且在符號(hào)中顯示的數(shù)字增加了1。
5 在使用啟動(dòng)/停止鍵完成測(cè)試 前,請(qǐng)先將被測(cè)對(duì)象關(guān)機(jī)。將出 現(xiàn)“另存為”符號(hào)(包含保存到剪貼板的測(cè)量值數(shù)的軟盤圖標(biāo))。
6 如果現(xiàn)在按下保存符號(hào),顯示器 將切換到SAVE視圖,其中將突出 顯示預(yù)選的(ME)設(shè)備
7 再次按下保存符號(hào)后,將顯示確認(rèn)存儲(chǔ)成功。同時(shí),顯示器返回到測(cè)量視圖
保存功能和ME(后續(xù))裝置的測(cè)量程序
作為上述步驟的等效方案,您可以從步驟4 開始,在測(cè)量完成后,將結(jié)果分配給包含在數(shù)據(jù)庫(kù)中的(ME)設(shè)備或它的ID號(hào): 通過(guò)手動(dòng)選擇ID并通過(guò)字母數(shù)字鍵盤輸入ID,或通過(guò)掃描條形碼。
9.1 RPE – 保護(hù)等級(jí)1類設(shè)備的保護(hù)導(dǎo)體電阻測(cè)試
1 SECUTEST ST BASE(10) / SECUTEST ST PRO / SECULIFE ST BASE
2) SECULIFE ST BASE25
3) 所選的補(bǔ)償值被長(zhǎng)久存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器中,并適用于在選擇器開關(guān) 位置 A1 ... A9
4) 也可以通過(guò)EL1, VL2E, AT3 適配器, AT16DI/AT32DI進(jìn)行連接
9.2 RINS – 保護(hù)等級(jí)1類設(shè)備的絕緣電阻測(cè)試
9.3 RINS – 保護(hù)等級(jí)2類設(shè)備的絕緣電阻測(cè)試
9.4 IPE – 保護(hù)導(dǎo)體電流
2) 僅適用于使用測(cè)試插座供電的被測(cè)對(duì)象 不適合使用AT16DI 或者AT32DI 適配器的測(cè)量
在測(cè)試所有泄漏電流前, 請(qǐng)?jiān)谠O(shè)置菜單檢 查測(cè)試參數(shù)?Ref. voltage L-PE“ 及 ?Testingfreq. Alt“ 是否設(shè)置正確, 參見11章
9.5 IT – 接觸電流
1 也可以通過(guò) AT3-IIIE, AT3-IIS, AT3-II S32, AT16DI/AT32DI 進(jìn)行連接
2 僅適用于使用測(cè)試插座連接的被測(cè)對(duì)象 不適用于使用 AT16DI 或者AT32DI 適配器的測(cè)量
在測(cè)試所有泄漏電流前, 請(qǐng)?jiān)谠O(shè)置菜單檢 查測(cè)試參數(shù)?Ref. voltage L-PE“ 及 ?Testingfreq. Alt“ 是否設(shè)置正確, 參見11章
9.6 IE – 設(shè)備泄漏電流
在測(cè)試所有泄漏電流前, 請(qǐng)?jiān)谠O(shè)置菜單檢 查測(cè)試參數(shù)?Ref. voltage L-PE“ 及 ?Testingfreq. Alt“ 是否設(shè)置正確, 參見11章.
? 將被測(cè)對(duì)象接到測(cè)試插座上
? 使用表筆P1充分接觸被測(cè)對(duì)象與保護(hù)導(dǎo) 體沒有連接的導(dǎo)電部分。
? 對(duì)于有應(yīng)用部分的被測(cè)對(duì)象: 還需使用 表筆P1對(duì)其應(yīng)用部分短路輸入進(jìn)行測(cè)量
9.7 IA – 應(yīng)用部分的泄漏電流
在進(jìn)行所有泄漏電流測(cè)試前,請(qǐng)確保設(shè) 置菜單中測(cè)量參數(shù)?Ref. voltage L-PE“ and ?Testingfreq. Alt“ 已經(jīng)設(shè)置準(zhǔn)確了。請(qǐng)參見 章節(jié) 11。
9.8 IP – 患者漏電流
在進(jìn)行所有泄漏電流測(cè)試前,請(qǐng)確保設(shè)置 菜單中測(cè)量參數(shù)?Ref. voltage L-PE“ and ?Testingfreq. Alt“ 已經(jīng)設(shè)置準(zhǔn)確了。請(qǐng)參見 章節(jié) 11。
9.9 U – 表筆測(cè)電流
? 將被測(cè)對(duì)象接到測(cè)試插座上
? 用P1測(cè)試探針接觸不接地輸出從而保護(hù) 特低電壓。
? 選擇線路電壓極性 特殊情況: 固定安裝的被測(cè)對(duì)象
9.10 U – 測(cè)量電壓 SECUTEST ST PRO 及 SECULIFE ST BASE 適配 I01:
9.11 tPRCD – PRCD 觸發(fā)時(shí)間 (便攜式剩余電流裝置)
9.12 P – 功能測(cè)試
9.13 EL1 –延長(zhǎng)線纜的功能測(cè)試
EL1 適配器的連接
? 將EL1 適配器接到測(cè)試儀器上的 P1探針插座
? 將延長(zhǎng)線末端的插頭連接到測(cè)試插座 上。
? 將延長(zhǎng)線末端的接頭插座連接到EL1適 配器處的插頭。
連接測(cè)試適配器 VL2E and AT3-IIIE
? 接線示例請(qǐng)見第 9.17節(jié)
9.14 EXTRA – 特殊功能
? 選擇所需要的測(cè)試功能
9.15 使用測(cè)試探針P1 及 P2 進(jìn)行兩點(diǎn)測(cè)量
SECUTEST ST PRO 及 SECULIFE ST BASE(25) 適配 H01
如果您的被測(cè)對(duì)象沒有適配SECUTEST測(cè)試 插座的市電插頭或者測(cè)試對(duì)象是固定安裝的, 那么第二根探針與首根組合起來(lái)就能進(jìn)行, 兩點(diǎn)測(cè)量。雙線法測(cè)量 RPE, RINS及等效漏 電流測(cè)試 。
探針1對(duì)探針2的測(cè)試是與電源電氣隔離的。 因此,在測(cè)試探針上是沒有電壓的。
RPE 測(cè)量的接線示例 測(cè)量保護(hù)等級(jí)1類的固定安裝裝置的保護(hù)導(dǎo) 體電阻RPE。
9.16 使用電流鉗測(cè)量保護(hù)等級(jí)1類的固定安裝被測(cè)對(duì)象 BASE(25)
僅限SECUTEST ST PRO 及SECULIFE ST
通過(guò)封裝在電路中的PE來(lái)測(cè)量測(cè)試電流。 只有當(dāng)測(cè)試電流設(shè)置為10A交流電時(shí),才能選擇該測(cè)量類型。 測(cè)量IPE的接線示例 (直接法)
9.17 使用測(cè)試適配器的測(cè)量
差動(dòng)電流法僅適用于SECUTEST ST PRO 2 對(duì)于IPE 及IG: 可使用AT3-IIS 或者AT3-II S32
注意! 有關(guān)測(cè)試適配器和被測(cè)對(duì)象的正確連接以及測(cè)試序列中的特殊,請(qǐng)考測(cè)試適配器的操作說(shuō)明。
10 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試序列
如果會(huì)經(jīng)常運(yùn)行相同的單個(gè)測(cè)試序列(一 個(gè)接一個(gè),并通過(guò)后續(xù)生成報(bào)告),例如 按照標(biāo)準(zhǔn)中指定的那樣,建議使用測(cè)試序 列。因?yàn)槠湟寻凑諛?biāo)準(zhǔn)輸入了測(cè)試序列的 極限值。因此,在基于壞情況評(píng)估的測(cè) 量期間進(jìn)行繼續(xù)/中止評(píng)估。如果瞬時(shí)測(cè)量 值顯示為綠色,則它位于標(biāo)準(zhǔn)中指定的極 限值范圍內(nèi)。如果測(cè)量值為紅色,則不符 合標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的要求。如果測(cè)量值顯示為 琥珀色,則需要進(jìn)一步的確認(rèn)輸入。 即使 測(cè)試對(duì)象有一個(gè)項(xiàng)目失敗,測(cè)試序列也會(huì) 中止并且按照所選標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的測(cè)試也會(huì)被判定失敗。
10.1 一般步驟
1 使用旋轉(zhuǎn)開關(guān)(A1 ... A9)選擇所需的測(cè)試序列。
2 如果沒有選擇任何測(cè)試對(duì)象,請(qǐng)?jiān)谶x擇 ID后輸入測(cè)試對(duì)象的ID號(hào),或者通過(guò)條形碼掃描儀。
3 等同于步驟 2, 使用MEM鍵激活數(shù)據(jù) 庫(kù)視圖:
4 使用滾動(dòng)鍵選擇測(cè)試對(duì)象
5 點(diǎn)擊ESC鍵返回到測(cè)量界面
6 點(diǎn)擊 START/STOP 按鍵開始測(cè)試序列
7 右側(cè)顯示的是測(cè)量值記錄符號(hào)。 每次按下此鍵時(shí),將重新啟動(dòng)測(cè)量或評(píng)估程序(參見第10.2章中的案例B)。
8 通過(guò)按下右邊所示的鍵來(lái)進(jìn)行下一 次測(cè)量。
9 在測(cè)試序列的末尾,您可以導(dǎo)出單個(gè)測(cè)試步驟的結(jié)果列表。
10 如果您想查看詳細(xì)信息,如單個(gè) 測(cè)試步驟中的設(shè)置,用光標(biāo)選擇所需的測(cè)量值,然后按+放大鏡鍵。
11 通過(guò)按下-放大鏡鍵,顯示器將返回到測(cè)試步驟的列表中。
12 按“保存”鍵保存成功測(cè)試序列的結(jié)果。
10.2 評(píng)估步驟
對(duì)于給定測(cè)試序列中的某些測(cè)試步驟,可 以手動(dòng)啟動(dòng)評(píng)估過(guò)程,但所有其他步驟都會(huì)自動(dòng)運(yùn)行。
案例 A – 含自動(dòng)觸發(fā)的評(píng)估:
一旦測(cè)量值穩(wěn)定下來(lái),就會(huì)自動(dòng)啟 動(dòng)評(píng)估(例如,持續(xù)時(shí)間為5秒)。 在此期間發(fā)生的壞值將被保存, 然后自動(dòng)切換到下一個(gè)測(cè)試步驟。
案例 B – 含手動(dòng)觸發(fā)的評(píng)估:
按下測(cè)量值記錄符號(hào)將開始進(jìn)行評(píng)估 (顯示: 0). 。經(jīng)過(guò)一段時(shí)間后,將壞值保存在右側(cè)WC(壞情況):在測(cè)量值測(cè)量符號(hào)中顯示數(shù)字1,表示首個(gè)測(cè)量值已保 存。 再次按下測(cè)量值記錄圖標(biāo), 重新啟動(dòng)評(píng)估過(guò)程。如果出現(xiàn)更差的值則使用新的值。
但是,如果此值優(yōu)于以前的壞值,則 原始值將保留在顯示器中。根據(jù)要?jiǎng)h除保存到剪貼板的最后一個(gè)值還是所有 值,按下面所示的符號(hào)選擇適當(dāng)次數(shù)。 按右邊所示的符號(hào)進(jìn)行下一個(gè)測(cè)試。
10.3 樣本測(cè)試序列
11單功能測(cè)量及測(cè)試序列的測(cè)試參數(shù)
同時(shí)適用于單功能測(cè)量和測(cè)試序列的測(cè)量參 數(shù),必須在旋鈕位置SETUP中進(jìn)行設(shè)置。
設(shè)置 1/3 > 所有測(cè)量環(huán)境
12 維修、零配件維修、儀器校準(zhǔn)、 產(chǎn)品展示銷售中心